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背景介紹
無(wú)損探傷檢測(cè)就是NDT Testing，縮寫(xiě)是NDT（或NDE，non-destructive examination），也叫無(wú)損探傷，是在不損害或不影響被檢測(cè)對(duì)象使用性能的前提下，采用射線、超聲、紅外、電磁等原理技術(shù)并結(jié)合儀器對(duì)材料、零件、設(shè)備進(jìn)行缺陷、化學(xué)、物理參數(shù)檢測(cè)的技術(shù)。
檢測(cè)項(xiàng)目
射線檢測(cè)
利用射線穿透物質(zhì)時(shí)的衰減特性來(lái)探測(cè)被檢物中的不連續(xù)性（缺陷）并記錄與實(shí)現(xiàn)其圖像的方法。射線檢測(cè)按照射線（或輻射）源不同可分為X射線檢測(cè)、γ射線檢測(cè)、中子射線檢測(cè)、質(zhì)子射線檢測(cè)和電子輻射檢測(cè)等方法。
超聲波檢測(cè)
利用人感覺(jué)不到的高頻聲波（＞20000Hz）在被檢物中的傳播、反射、衰減等特性判斷測(cè)定被檢物缺陷的方法。
磁粉檢測(cè)
被檢物在磁場(chǎng)中被磁化后，缺陷部位產(chǎn)生漏磁磁場(chǎng)，在被檢物表面撒上磁粉，缺陷處有磁粉附著從而顯示出缺陷。磁粉檢測(cè)只適用于鐵磁性材料。鐵磁性材料上非磁性涂層厚度小于50um時(shí)，對(duì)磁粉檢測(cè)靈敏度影響很小。缺陷長(zhǎng)度方向與磁場(chǎng)方向相垂直是磁粉檢測(cè)的重要條件。
滲透檢測(cè)
施加于被檢物的滲透劑靠毛細(xì)作用滲入被檢物表面缺陷內(nèi)，清洗被檢物后，用顯像劑將殘留在缺陷中的滲透劑吸出，從而以熒光或著色圖像顯示缺陷的形狀和位置。滲透液對(duì)缺陷的滲透能力與滲透液表面張力、滲透液對(duì)固體的潤(rùn)濕作用、缺陷形狀和大小以及滲透液粘度等有關(guān)。 
檢測(cè)設(shè)備
射線探傷機(jī)，超聲波探傷儀，磁粉探傷機(jī)等。 

檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)
射線檢測(cè) GB/T 3323，JB/T 4730.2，JB/T 6440，EN 1435，ASTM E 446，ASTM E186，ISO 5817
超聲波檢測(cè) GB/T2970，GB/T6402，GB/T7233，GB/T11345，EN 12680-1，ASTM A388/A388M，JB/T 4730.3
磁粉檢測(cè) GB/T15822，JB/T6061，BS EN1290，JB/T 4730.4
滲透檢測(cè) JB/T 9218，JB/T6062，EN 571-1，JB/T 4730.5

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